CDEResMap四探针电阻率/方块电阻测试仪
2017-05-16 16:03:58   来源:   评论:0 点击:

CDEResMap四探针电阻率 方块电阻测试仪(CDEResMap Four Probe Resistance Tester)主要技术指标 Specifications:1 薄膜电阻测量范围: 10-5Ω cm~105Ω cmResistance test: 10-5Ω cm ~

相关热词搜索:电阻率 探针 测试仪

上一篇:美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪中标上海交通大学
下一篇:最后一页

分享到: 收藏
评论排行