CDEResMap四探针电阻率/方块电阻测试仪
2017-05-16 16:03:58 来源： 评论：0 点击：
CDEResMap四探针电阻率 方块电阻测试仪(CDEResMap Four Probe Resistance Tester）主要技术指标 Specifications:1 薄膜电阻测量范围: 10-5Ω cm~105Ω cmResistance test: 10-5Ω cm ~
(CDEResMap Four Probe Resistance Tester）
1.薄膜电阻测量范围: 10-5Ω.cm~105Ω.cm
Resistance test: 10-5Ω.cm ~ 105Ω.cm
2.方块电阻测量范围:10-3Ω/□至106Ω/□
Sheet resistance test:10-3Ω/□ to 106Ω/□
3.晶片直径: 50至200mm,可测量不规则硅片
Diameter of wafers: 50 to200mm
4.具有2D、3D Mapping的数据分析功能。
With 2D and 3D mapping and data analysis function。
5.具有测试数据自动导出功能。
With test data export function。
Used for non-metal material resistance measurement.
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