CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)
2017-05-10 17:13:12   来源: 瞬渺市场部   评论:0 点击:

CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)CDE ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体
 
 
 
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)
 
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CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)

CDE ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

  • 商品编号:ResMap 178
  • 商品重量:178.000 克(g)
  • 货  号:ResMap 178
  • 品  牌:CDE
  • 所得积分:178
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CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 4探针测试系统(电阻率,面电阻)

CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

半导体行业行业标准,服务众多知名半导体工业用户!

CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)
  CDE 提供自动计算机量测的四点探针阻值量测机台。快速,精确与软件控制下针、软件功能可最佳化下针压力,即使薄片量测也不易破裂。自动清针(Probe Conditioning);动作,双针头切换。太阳能使用可支持自动Loader,300mm 机台可使用Front End,最多扩充3个量测单元,支持Semi标准接口。


光伏测试专用美国ResMap四点探针

CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 4探针测试系统(电阻率,面电阻)

CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且可以Recipe设定更换
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。

 

CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 4探针测试系统(电阻率,面电阻)主要特点:

测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全...
美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪(Four point probe(4PP))
设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)
主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap
规格:
1. Pin material: Tungsten Carbide.
2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.
3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜,半导体材料)
设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量,半导体,光伏
特点:
1)针尖压力一致
2)适用于各种基底材料
3)友好的用户界面
4)快速测量
5)数据可存储
 
应用:
1)方块电阻

2)薄片电阻

3)掺杂浓度

4)金属层厚度

5)P/N类型

6)I/V测试

 

 
 
 
提问
非会员顾客 说: 16-01-08 16:05
 
CDE的四探针如何校准? 1. 设备本身的电路校准(不使用探头校准):CDE公司提供一整套标准的电阻模块(一般共8块:7块标准电阻从十的负一到十的五次方,另外加一块Leaker) 2. 接上探头用探头测试标准片:一般如果条件允许使用VLSI标片。
回答
管理员[Sinton instruments]  回复: 16-01-26 11:49
 
CDE的四探针如何校准? 1. 设备本身的电路校准(不使用探头校准):CDE公司提供一整套标准的电阻模块(一般共8块:7块标准电阻从十的负一到十的五次方,另外加一块Leaker) 2. 接上探头用探头测试标准片:一般如果条件允许使用VLSI标片。
提问
非会员顾客 说: 15-12-10 09:57
 
http://www.cnfusers.cornell.edu/cnf5_tool.taf?_function=detail&eq_id=38&gtitle=METROLOGY&area=METROLOGY&cacName=CDE%20ResMap%20Resistivity%204%2Dpt%20Probe&labUser=1
回答
管理员[Sinton instruments]  回复: 15-12-10 10:48
 
 
提问
非会员顾客 说: 15-12-10 09:54
 
http://mfc.engr.arizona.edu/Matrix/CDE%20Resmap.html
 
提问
非会员顾客 说: 15-05-19 15:43
 
http://www.simgui.com.cn/pro_48_237.htm
回答
管理员[Sinton instruments]  回复: 15-05-29 16:53
 
 
提问
非会员顾客 说: 14-12-19 14:38
 
CDE 提供自动计算机量测的阻值量测四点探针量测机台。 优点简述如下: 1.自动决定量测范围 2.Dual Configuration消除因探针头与量测面接触之位置误差 3.高throughput 4.提供软件针压测试,最佳化下针条件,同时避免薄片易破裂 5.内建公式,可直接量厚度 6.温度补偿  7.提供针头自动清洁conditioning 功能 8.具双针头切换使用功能 9.体积小,稳定性高   10.与机台结合的整合性Wafer Handler
回答
管理员[admin]  回复: 14-12-24 11:26
 
CDE 提供自动计算机量测的阻值量测四点探针量测机台。 优点简述如下: 1.自动决定量测范围 2.Dual Configuration消除因探针头与量测面接触之位置误差 3.高throughput 4.提供软件针压测试,最佳化下针条件,同时避免薄片易破裂 5.内建公式,可直接量厚度 6.温度补偿 7.提供针头自动清洁conditioning 功能 8.具双针头切换使用功能 9.体积小,稳定性高 10.与机台结合的整合性Wafer Handler

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