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探针电阻值测试系统

探针电阻值测试系统

CDE Resmap 系统满足你所有的需求。 不管是在研究实验室还是需要高净化要 求的半导体生产车,它都可以完成连续24/7片从低到高,多数量连续测试的需求。不论 你是在化学研磨抛光(CMP),扩散,离子注入部门,或者在导电薄膜研究, CDE的 RESMAP 系统可以满足您工艺上和测量需求发展上甚至是预算方面的要求。

Resmap系统提供的是准确、可重复使用的,快速、持久、先进的测量设备。如 今,全新的多探针测试系统 Resmap 400系列为您提供功能最全面,性价比最高的测量 设备