- 少子寿命测试采用WCT120少子寿命测试仪，经退火处理的硅片平均少子寿命为70μs左右，
- 薄晶硅PERC光伏电池工艺探究
- SINTON少子寿命测试仪技术论坛讲座_论坛主题：硅太阳电池研发及生产的量测与检验方案
- 诚邀参加“瑞士Lyncee 数字全息显微镜”（上海交大）研讨会
- 上海瞬渺将参加 ILOPE 2008 (Booth No: 3606) and AOE (Booth No: 1721)
- 高效硅基异质结太阳能电池量产的关键因素
- 上海瞬渺光电成功参加慕尼黑上海激光、光电展：
- 上海瞬渺光电诚邀您参加北京CIPE2017
- 上海瞬渺光电诚邀您参加北京CIPE2011
- 诚邀参加“美国ENERGETIQ 高亮度超光谱光源”（上海）研讨会
